光谱检测技术 – 昆山市宏光明光学仪器有限公司

工业检测中如何选择适配的高精度显微镜？五大核心参数解密
#光谱检测技术 #工业显微镜选型 #激光器参数优化

轴向色差校正与工作距离的平衡法则
在半导体封装检测领域，消色差物镜的数值孔径（na值）与齐焦距离存在非线性关系。根据iso 19012-2标准，当采用无限远校正光学系统时，工作距离（wd）与物镜前焦面的入射角余弦值呈反比例关系。工程师需特别关注焦深（dof）与景深（bfp）的换算公式：dof=λ/(2na²)+n/(m×na)，其中n为介质折射率，m为总放大倍率。

共聚焦成像系统的针孔直径应控

2025-05-30 23:26 【光学应用】