-
工业检测中如何选择适配的高精度显微镜?五大核心参数解密
轴向色差校正与工作距离的平衡法则
在半导体封装检测领域,消色差物镜的数值孔径(na值)与齐焦距离存在非线性关系。根据iso 19012-2标准,当采用无限远校正光学系统时,工作距离(wd)与物镜前焦面的入射角余弦值呈反比例关系。工程师需特别关注焦深(dof)与景深(bfp)的换算公式:dof=λ/(2na²)+n/(m×na),其中n为介质折射率,m为总放大倍率。共聚焦成像系统的针孔直径应控
【光学应用】
最新文章
- 实验室精密光学设备如何选型?这三大标准必须掌握 2025-05-25 11:59
- 科研实验室如何挑选高精度显微镜?这5个参数必须看 2025-05-24 07:58
- 如何选择适配工业检测的光谱仪系统? 2025-05-31 00:59
- 光谱分析为何需要傅里叶变换近红外光谱仪? 2025-05-31 00:53
- 显微镜选购有哪些关键指标?这5点必须了解! 2025-05-23 00:23
热门标签
随机标签
文章归档
- 2025 年 5 月 (99)